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準(zhǔn)確的EIS測量Gamry電化學(xué)儀器以準(zhǔn)確測量EIS著稱。每臺(tái)電化學(xué)儀器都有準(zhǔn)確的阻抗精度圖（ACP）。ACP闡述了在給定阻抗和頻率條件下的阻抗精度。為什么制作ACP？?兩個(gè)主要原因：了解在典型條件下EIS測量儀器的精度范圍和限制因素。了解儀器導(dǎo)線長度和施加信號(hào)幅度對(duì)阻抗精度的影響制作ACP時(shí)，首先對(duì)開路和短路條件下進(jìn)行阻抗測量。開路測量描述是指施加擾動(dòng)振幅下整個(gè)電化學(xué)系統(tǒng)和儀器導(dǎo)線的電容測量低極限。超出測量極限的阻抗數(shù)據(jù)，不管數(shù)據(jù)多么漂亮，都應(yīng)該被拋棄。原因是測量的結(jié)果來自...

介紹我的所有阻抗圖譜看上去都一樣！這樣的抱怨非常普遍。“我是一個(gè)經(jīng)驗(yàn)豐富的高分子化學(xué)家。我嘗試用電化學(xué)阻抗法來預(yù)測涂層的耐腐蝕性能。我記錄許多阻抗數(shù)據(jù)。盡管我在涂層配方中做了改變，幾乎所有的圖譜都一樣。顯然，我不能用這些結(jié)果去評(píng)價(jià)我的涂層行為。這是怎么回事？”對(duì)于這樣的抱怨，有兩種常見的原因：涂層質(zhì)量很好，EIS數(shù)據(jù)重現(xiàn)性非常好你試圖做的測試超出了電化學(xué)工作站阻抗系統(tǒng)的能力范圍第二種原因可能性更大。實(shí)際你在測試儀器的性能，而不是涂層的性能。這篇應(yīng)用報(bào)告將會(huì)探討電化學(xué)工作站對(duì)涂...

引言電化學(xué)阻抗譜（EIS）是獲取電化學(xué)系統(tǒng)信息的一種強(qiáng)有力的測試方法。它常常被應(yīng)用在測試新型的能源轉(zhuǎn)換和存儲(chǔ)類電化學(xué)器件（ECS），包括電池，燃料電池和超級(jí)電容器。EIS可以被用到新設(shè)備發(fā)展的各個(gè)階段，一直從半電解池反應(yīng)的機(jī)理和動(dòng)力學(xué)初始評(píng)估到電池包的質(zhì)量控制。ECS器件在高功率應(yīng)用（例如電動(dòng)汽車）中使用量的增加引導(dǎo)我們發(fā)展更多具有較低阻抗的設(shè)備。不幸的是，現(xiàn)代ECS器件的阻抗常常太低了，以至于實(shí)驗(yàn)室EIS系統(tǒng)無法輕易地或者準(zhǔn)確地測量到。大多數(shù)商業(yè)EIS系統(tǒng)在阻抗低于0.1Ω...

引言電化學(xué)阻抗譜（EIS）是分析復(fù)雜電化學(xué)系統(tǒng)的強(qiáng)有力工具。您可以瀏覽技術(shù)報(bào)告BasicsofEIS，里面有對(duì)EIS的全面介紹。而那則技術(shù)報(bào)告中提及的大多數(shù)內(nèi)容，本文將不再贅述。本技術(shù)報(bào)告實(shí)際討論了EIS數(shù)據(jù)分析常見的方法，給大家甚至是初學(xué)者提供從EIS阻抗譜理解電解池中物理過程的基本方法。本文特意回避了與EIS數(shù)據(jù)分析相關(guān)的復(fù)雜數(shù)學(xué)計(jì)算。EIS基礎(chǔ)知識(shí)使用EIS時(shí)，您在一個(gè)廣泛的交流頻率范圍內(nèi)測試電解池的復(fù)阻抗。通常，系統(tǒng)的EIS阻抗譜由幾個(gè)電解池元件和電解池特征促成。一部...

旋轉(zhuǎn)環(huán)盤是電化學(xué)測量的重要工具之一，其結(jié)構(gòu)是在園盤的同一平面上放一個(gè)同心圓環(huán)，盤與環(huán)電極之間用絕緣材料隔離，盤電極通常用被研究的材料制成，環(huán)電極一般用鉑或金制成。為了達(dá)到優(yōu)良的電極性能，電極須在加工精度、傳動(dòng)裝置、測速系統(tǒng)、環(huán)電極與盤電極的幾何形狀、同心度、絕緣性能等方面均有著特殊的要求。主要用于電化學(xué)的流體動(dòng)力學(xué)研究，實(shí)際應(yīng)用主要在燃料電池、電鍍、金屬腐蝕等領(lǐng)域，也有純粹做動(dòng)態(tài)電化學(xué)技術(shù)研究的會(huì)應(yīng)用到。旋轉(zhuǎn)環(huán)盤的保養(yǎng)技巧：1.常有客戶詢問因?yàn)閷?shí)驗(yàn)室搬遷，圓環(huán)電極裝置移動(dòng)位置...

引言大頻率是電化學(xué)阻抗譜（EIS）測試儀器的一個(gè)重要參數(shù)。大多數(shù)EIS制造商在說明書中列出1MHz的大頻率。但是，一些制造商的技術(shù)參數(shù)虛報(bào)了真實(shí)的系統(tǒng)性能。很多EIS儀器被測量1MHz的阻抗時(shí)可以施加1MHz的信號(hào)，然后測量響應(yīng)—這樣做的時(shí)候會(huì)有巨大的誤差。該技術(shù)報(bào)告能幫助您快速評(píng)估任意EIS儀器的性能。您可以用它簡單有效地比較不同的阻抗系統(tǒng)。在購買前一定記得要先測試！測試程序包括測量五種EIS阻抗譜。其中三種使用具有理想EIS響應(yīng)的電阻進(jìn)行記錄評(píng)估。另外兩種探測EIS系統(tǒng)的...

電化學(xué)阻抗譜（EIS）在電化學(xué)研究，開發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域無處不在。該技術(shù)將EIS測試得到的數(shù)據(jù)與電阻、電容、電感和其他理論元器件組成為的假設(shè)電路模型進(jìn)行比較。如果數(shù)據(jù)與電路匹配（數(shù)據(jù)與模型的“擬合”），則這一電路被視為這些數(shù)據(jù)的有效模型。有關(guān)EIS技術(shù)的背景知識(shí)，建議您首先閱讀我們的應(yīng)用報(bào)告“電化學(xué)阻抗譜原理”。有關(guān)對(duì)EIS數(shù)據(jù)建立模型的一般討論，請(qǐng)參考應(yīng)用報(bào)告“使用GamryEIS軟件建立等效電路模型”。但是，什么構(gòu)成了用為擬合模型的正確的電子元器件組成的電路？本應(yīng)用報(bào)告討論...

介紹引入常相位角元件（CPE）來代替EIS測試中的電容元件，大多數(shù)商業(yè)軟件（Gamry,Scribner,Solartron等）都可以擬合EIS數(shù)據(jù)。與使用純電容獲得的擬合結(jié)果相比，CPE獲得的結(jié)果要好得多。考慮到CPE定義了電化學(xué)EIS實(shí)驗(yàn)中表面的不均勻性以及固態(tài)EIS測試中電荷分布不均勻性，在真實(shí)體系中使用CPE能獲得更好的擬合是合理的。主要的問題是，在商業(yè)軟件中使用CPE擬合得到的電容沒有容量的單位，即Fcm-2或者Ω-1cm-2，而是Ω-1cm-2sa，其中a是CPE...